«И» «ИЛИ»  
© Публичная Библиотека
 -  - 
Универсальная библиотека, портал создателей электронных книг. Только для некоммерческого использования!
Васичев Борис Никитович (физмат)

Борис Никитович Васичев 154k

-

(1932)

  ◄  СМЕНИТЬ  ►  |▼ О СТРАНИЦЕ ▼
▼ ОЦИФРОВЩИКИ ▼|  ◄  СМЕНИТЬ  ►  
Выдающийся российский ученый, основоположник ряда научных направлений, внесший большой вклад в развитие квантовой физики, электронной оптики, электронно-оптического приборостроения и технологического электронно-лучевого оборудования микроэлектроники.
Родился в 1932 г. в г. Москве. В 1958 году Б.Н. Васичев окончил Московский инженерно-физический институт, в 1963 - аспирантуру.
Доктор физико-математических наук (1972), профессор. Заслуженный деятель науки и техники РФ (1995). Лауреат Премии Правительства Российской Федерации (2004), Почетный работник высшего профессионального образования РФ, Изобретатель СССР, Главный конструктор электронной техники СССР, Председатель «Межведомственного научно-технического совета СССР по проблемам электронного машиностроения», Президент творческого союза «Электронное машиностроение», член Российского вакуумного общества.
Б.Н. Васичев имеет более 350 научных работ, опубликованных в ведущих изданиях Академии Наук СССР, Российской Академии Наук, отраслевых журналах, в том числе 5 монографий и более 20 изобретений...
:
AAW, DNS...




  • Васичев Б.Н. Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок. [Djv-Fax- 3.6M] Автор: Борис Никитович Васичев.
    (Москва: Издательство «Металлургия», 1977)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv-Fax: DNS, 2012
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (9).
      Введение (11).
      Глава I. Локальные методы исследования твердых тел (13).
      Глава II. Физические основы локального анализа тонких пленок (31).
      Глава III. Экспериментальные методы и аппаратура для исследования микроструктур и определения следов вещества в тонких пленках (139).
      Глава IV. Приготовление тонких пленок (объектов) и примеры их анализа (215).
      Список литературы (236).
ИЗ ИЗДАНИЯ: Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронно-микроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление - электронно-зондовый микроанализ тонких пленок. Область применения метода весьма широка и разнообразна: это металлургия, полупроводниковая электроника, минералогия, биология и т.д. Рассмотрена аппаратура, применяемая для микроанализа тонких пленок, и даны рекомендации по технологии приготовления объектов.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников - физиков и металловедов, занимающихся исследованием тонких пленок, микроструктуры тонких слоев и микрочастиц вещества. Может быть полезна студентам соответствующих вузов.